少子寿命分析仪

VIP 第2年

少子寿命分析仪

详细介绍

产品特点：

1.HS-L1采用微波反射光电导衰退发准确分析测量半导体硅材料的少子寿命，实现

2.对于材料的质量合格检测，并对太阳能电池生产工艺进行有效的控制。

主要参数：

测试范围和精度
测试范围	单片或块状硅材料；扩散形成P-N后的太阳电池(均无金属电极)
少子寿命	1um-1ms
测试速度	0.1second/point
测试不重复度	≤5%
电源要求
电源	200VAC±10%,20A,50Hz单相

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